Viimastel aastatel on elektroonika kasutusalad kiiresti kasvanud. Paralleelselt sellega suureneb tänu tehnoloogilisele arengule elektroonikaseadmete keerukus ja need muutuvad vastuvõtlikumaks vigadele. Lisaks peavad elektroonikaseadmed olema projekteeritud ja kontrollitud vastavalt nende kasutusvaldkonnale ning arvestama selle valdkonna nõudeid.
Oluline on kindlaks teha, kui tõhusad on ohutusmehhanismid vigade ennetamisel, ja vastavalt tulemusele määrata kiipsüsteemi või riistvara mooduli ASIL tase. Selleks saab kasutada erinevaid analüüsimeetodeid.
Käesolev doktoritöö keskendub nimetatud funktsionaalse analüüsi meetodite tõhustamisele. Selleks on välja pakutud erinevaid meetodeid ning nende efektiivsus on eksperimentaalsete uuringutega tõestatud ja avaldatud artiklites.

Juhendajad: kaasprofessor tenuuris Maksim Jenihhin (Tallinna Tehnikaülikool) ning Dr. Christian Sauer

Oponendid:

• professor Alberto Bosio (École Centrale de Lyon, Prantsusmaa)
• Dr. Juergen Alt (Infineon Technologies AG, Saksamaa)

Doktoritöö on avaldatud Tehnikaülikooli raamatukogu digikogus